BDU-nun nəzdində Fizika Problemləri Elmi-Tədqiqat İnstitutunun Kondensə olunmuş hal fizikası şöbəsinin əməkdaşlarının hazırladıqları sillenit tipli Bi₁₂SiO₂₀ monokristallarının struktur və optik xassələri rentgen difraksiya (XRD) və spektral ellipsometriya metodları əsasında öyrənilmişdir. Müəyyən olunmuşdur ki, kristallar səthə mərkəzləşmiş kubik quruluşludur və 1.0107 nm elementar qəfəs parametrinə malikdir. Kompleks dielektrik nüfuzluğunun, sındırma və udma əmsallarının spektral asılılıqlarını müəyyənləşdirmək və kritik nöqtələri təyin etmək üçün 1.2 eV ÷ 6.2 eV foton enerjisi oblastında ellipsometrik tədqiqat aparılmışdır. Udma sərhəddindən kiçik enerjilərdə sındırma indeksi 2.37 ilə 2.58 eV arasında dəyişir. Tədqiq olunan kristalın udma spektri əsasında qadağan olunmuş zonanın eni üçün 3.25 eV tapılmışdır. Kompleks dielektrik nüfuzluğu spektrinin ikinci tərtib törəməsindən 3.54, 4.02, 4.82 və 5.58 eV enerjilərdə dörd fərqli optik keçid müəyyən edilmişdir.

Bi₁₂SiO₂₀ kristalının işığın idarə olunması, işıq vasitəsi ilə informasiyanın yazılması və oxunmasında istifadə edilməsi üçün optimal optik parametrlərə malik olduğu müəyyən edilmişdir.