Yaponiyanın Osaka Metropolitan Universitetinin professoru Yong-Gu Şim Bakı Dövlət Universitetinin (BDU) əməkdaşları, gənc tədqiqatçıları və tələbələri üçün keçirilən elmi seminarda “Spektroskopik ellipsometriyanın əsasları və onun tətbiqi” (Fundamentals of spectroscopic ellipsometry and its application) mövzusunda məruzə ilə çıxış edib.

Elmi seminarda professor Yong-Gu Şim işığın polyarlaşmasının əsaslarını izah edib, spektroskopik ellipsometriyanın əsasları, tətbiqləri, prinsipləri, məlumatların təhlilinin yeni üsulları haqqında məlumat verib.

Qeyd edək ki, spektroskopik ellipsometriya nazik təbəqələri “dağıtmadan” optik sabitlərinin və struktur parametrlərinin təyin olunmasında geniş istifadə olunur. Spektroskopik ellipsometriya nazik təbəqə nümunəsindən bucaq altında əks olunduğu zaman işığın polyarlaşma vəziyyətinin dəyişməsinə əsaslanır. Spektroskopik ellipsometriya nazik təbəqə və interfeysin qalınlığını, təbəqələrin n və k kimi optik sabitlərini təyin etməyə, habelə, təbəqənin səth morfologiyasını müəyyənləşdirməyə imkan verir.

Daha sonra Yong-Gu Şim verilən sualları cavablandırıb.